Thermal shock test box -詳細資料報價歡迎垂詢

一、Thermal shock test box 用途：

適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.

二、滿足標準：
1. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件
2. GB11158-89 高溫試驗箱技術條件
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7. IEC68-2-14 試驗N

8. 國軍標GJB150.3-86
9. 國軍標GJB150.4-86     

10.GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 　

11.GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

三、 控制方式與特色：

利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開DAPER，達到快速沖擊效果；平衡調溫控制系統(tǒng)(BTC)，以P.I.D.方 式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用。 

四、技術參數：

1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃ 

2、 溫度上限：+200℃ 

3、 溫度下限：-80℃ 

4、 溫度偏差：±2℃ 

5、 溫度波動度：±0.5℃ 

6、 溫度恢復時間：5min 

7、 溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉移方式：采用氣動   

9、試品重量：≤3kg 

10、高溫室升溫時間：35min (+20℃～+170℃) 

11、低溫室降溫時間：70min (+20℃～-55℃) 

12、噪音：（dB）≤65 

13、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護接地 

14、總功率：13KW 

六、 型號及內箱尺寸（W寬XH高X深D）                              

 ZT-30A-S　   W寬300XH高350XD深300mm
 ZT-50A-S　   W寬350XH高400XD深350mm
 ZT-80A-S　   W寬400XH高500XD深400mm

 ZT-150A-S　W寬500XH高600XD深500mm

 ZT-252A-S     W寬600XH高700XD深600mm   

 ZT-408A-S     W寬600XH高850XD深800mm